Part 1

Коррекция энергетической чувствительности

Многочисленные эксперименты однозначно показали, что одной из важных причин пространственной неоднородности является пространственная вариация в энергетическом оклике камеры (вариация в амплитуде импульсов). Если измерить энергетический спектр от коллимированного точечного источника фотонов, падающих на разные участки кристалла гамма-камеры, даже должным образом настроенной, то фотопики не наложатся точно друг на друга. Основной подход к коррекции энергетического отклика заключается в последовательной подстройке энергетического сигнала Z до входа его в амплитудный анализатор импульсов (ААИ).

Сигнал, поступающий в стационарное окно ААИ, находится в интервале Z + ΔΖ, где Z – первоначальная энергия сигнала и ΔΖ – инкремент, добавляемый энергетической коррекцией. Необходимая пространственная вариация ΔΖ находится из матрицы, накладываемой на кристалл. В зависимости от производителя применяются матрицы 64 х 64 и 128 х 128, члены которых определяются предварительно производителями по собственным методикам.

Фирма Сименс, например, разработала схему энергетической коррекции, основанную на принципе идентификации ΔΖ как произведения fZ, где f – доля фактора энергетической коррекции (ΔE/E), рассчитываемая в матрице энергетической коррекции для каждого пикселя из зарегистрированного спектра. Преимущество такого подхода состоит в его применимости к полиэнергетическим окнам. Так как относительная величина энергетической коррекции (f) является независимой от энергии для данного пикселя, то можно рассчитать коррекцию для каждого энергетического импульса, находящегося внутри интервала линейности электроники системы.

Содержание