Гетероэпитаксия кремния
Гетероэпитаксия Si на диэлектрических подложках (лейкосапфир, иногда или BeO) – одно из перспективных направлений в технологии ИМС, т. к в этом случае естественным путем решается проблема изоляции элементов схемы на подложке (быстродействие микросхем возрастает на 2 порядка, увеличивается так же плотность и радиационная стойкость МС).
В качестве подложки наиболее распространен монокристаллический лейкосапфир. Он теплопроводен, имеет высокую диэлектрическую проницаемость, выращивается в диаметре до 30 см2, хотя имеет не полное соответствие с Si по параметру решетки и коэффициенту термического расширения.
Лучшие результаты дает силановый метод получения (хлоридный метод менее пригоден т.к химические реагенты взаимодействуют с сапфиром). Большое внимание уделяется качеству подготовки подложки: полировка до 14; отжиг при 1500-1600°С или травление в Н2 (фреоне) при 1450-1550°С. При этом удаляется слой 8-10 мкм. Перед эпитаксией еще раз травят в Н2.
Al2O3(тв) + 2H2→ Al2O(пар) + 2Н2О(пар)
Первый слой Si образуется в результате замещения Al в сапфире на Si.
Недостатки: 1) загрязнение слоя Al и O2
2) неоднородные свойства по толщине
- Оглавление
- Классификация мэт
- Проводниковые материалы
- Физическая природа электропроводности металлов
- Зависимость электропроводности металлов от температуры и примеры
- Электрические свойства металлических сплавов
- Сопротивление проводников на высоких частотах
- Сопротивление тонких металлических плёнок. Размерный эффект
- Контактные явления в металлах
- Материалы высокой проводимости. Медь
- Алюминий
- Сверхпроводящие металлы и сплавы
- Специальные сплавы
- Сплавы для термопар
- Сплавы для корпусов приборов
- Тугоплавкие металлы
- Благородные металлы
- Неметаллические проводящие материалы
- Полупроводники. Классификация полупроводниковых материалов
- Собственные и примесные полупроводники
- Температурная зависимость концентрации носителей заряда.
- Подвижность носителей заряда в полупроводниках
- Электрофизические явления в полупроводниках.
- Кремний
- Физико-химические и электрические свойства Si
- Марки кремния.
- Германий
- Физико-химические и электрические свойства германия
- Карбид кремния (SiC)
- Полупроводниковые соединения аiii вv
- Твердые растворы на основе аiii вv
- Полупроводниковые соединения aiibvi и трз на их основе
- Полупроводниковые соединения aivbvi и трз на их основе
- Диэлектрики, классификация, основные свойства
- Электропроводность диэлектриков
- Потери в диэлектриках
- Пробой диэлектриков
- Полимеры в электронной технике
- Композиционные пластмассы и пластики
- Электроизоляционные компаунды
- Неорганические стекла
- Ситаллы
- Керамики
- Активные диэлектрики
- Сегнетоэлектрики
- Пьезоэлектрики
- Пироэлектрики
- Электреты
- Жидкие кристаллы
- Материалы для твердотельных лазеров
- Магнитные материалы. Их классификация
- Магнитомягкие материалы
- Магнитотвердые материалы
- Технология получения материалов электронной техники Методы получения тонких пленок
- Вакуумные методы. Термическое вакуумное напыление.
- Кинетика процесса конденсации. Роль подложки
- Создание вакуума в вакуумных установках
- Измерение вакуума
- Вакуумные установки термического напыления
- Катодное вакуумное распыление (диодное)
- Ионно - плазменное распыление
- Эпитаксиальные процессы в технологии материалов электронной техники
- Механизм процесса эпитаксии
- Автоэпитаксия кремния
- Гетероэпитаксия кремния
- Эпитаксия полупроводниковых соединений аiiibv и трз на их основе
- Температурно - временной режим эпитаксии
- Эпитаксия SiC
- Оборудование для наращивания эпитаксиальных слоев
- Элионные технологии
- Ионно-лучевые установки
- Механическая обработка полупроводниковых материалов
- Шлифование и полирование пластин
- Химическая обработка поверхности полупроводника
- Методы отчистки поверхности
- Фотолитография (операции, материалы)
- Нанотехнология, определения и понятия
- Инструменты для измерения наноструктур
- Наноструктуры и наноустройства
- Методы нанотехнологий