2.4.1. Виды анализа на основе упругих и квазиупругих взаимодействий

Дифрактометрия основана на получении дифракционной кар-тины кристаллов, по которым определяют качественные и количественные структурные параметры.

Дифракция рентгеновских лучей основана на рассеянии рентгеновских лучей кристаллами.

Дифракция электронов основана на рассеянии потока электронов ядрами атомов.

Дифракция нейтронов основана на рассеянии потока нейтронов ядрами атомов, а также при взаимодействии магнитного момента нейтрона с моментами ядер и электронов.

Дифракция ионов основана на взаимодействии образца с потоком ионов.

Рефрактометрический анализ основан на разности скорости распространения света в веществе и вакууме.

Рефрактометрический анализ основан на измерении показателя преломления света в анализируемом веществе.

Поляриметрия основана на измерении вращения плоскости поляризации света для определенной концентрации оптически активных веществ.

Эллипсометрия основана на зависимости отношения амплитуд света, измеренных в параллельном и перпендикулярном к направлению падающего луча плоскостях, от концентрации анализируемого компонента в изотропном образце.