6. Дифракционная решетка
Для получения ярких дифракционных спектров применяются дифракционные решетки. Дифракционная решетка представляет собою совокупность большого числа узких параллельных щелей одинаковой ширины, расположенных на равных расстояниях друг от друга. Простейшим примером дифракционной решетки является стеклянная пластинка, на которой делительной машиной нанесен ряд параллельных штрихов. Места, прочерченные машиной являются практически непрозрачными для света промежутками. Неповрежденные части пластинки играют роль щелей.
Рассмотрим дифракционную картину, полученную при прохождении света через решетку. Если на пути лучей, распространяющихся от щелей решетки, поместить линзу, а в фокальной плоскости линзы экран, то на экране в одну точку соберутся все параллельные лучи, идущие под одним и тем же углом к нормали (Рис. 4).
Лучи, идущие под другим углом, соберутся в другой точке. Освещенность каждой точки экрана будет зависеть как от интенсивности света, даваемого каждой щелью в отдельности, так и от результата интерференции всех лучей, прошедших через щели. В тех местах, где каждая из щелей дает минимум, будет минимум и при нескольких щелях. Но в некоторых направлениях лучи света, прошедшие через все щели, могут вследствие интерференции гасить друг друга и давать д о б а в о ч н ы е , к даваемым каждой щелью, минимумы. Точно также в других направлениях лучи, складываясь, могут усиливать друг друга, давать максимумы.
Обозначим на рис. 4 ширину щели а, ширину непрозрачного промежутка b. Расстояние a+b=c называют п е р и о д о м решетки или п о с т о я н н о й решетки.
В направлении нормали лучи идут в одинаковой фазе и при сложении (на рис.4 линза не показана) усилят друг друга, дадут светлую полоску, которую называют нулевым максимумом.
Возьмем лучи., распространяющиеся от щелей под некоторым углом к нормали, и проведем линию АР перпендикулярно к направлению лучей. От этой линии до экрана лучи, распространяющиеся от щелей, будут проходить одинаковые расстояния. Но до этой линии пути, пройденные лучами, различны. Разность хода лучей, идущих от соответственных точек соседних щелей, т.е. лучей, начинающихся у тождественных точек равна:
= РС = АС Sin = с Sin | (6) |
На рис. 4 ряд таких соответственных точек показан стрелками.
Если разность хода равна целому числу волн, т. е. четному числу полуволн, то все лучи, идущие от одной щели, будут при сложении усиливаться лучами, идущими от с о о т в е т с в е н н ы х точек соседних щелей и в направлении, определяемом равенством:
с Sin = 2k или Sin = , | (7) |
мы увидим светлую полоску, максимум. Величина к, равная любому целому числу начиная с 1, показывает порядок максимума. Из этого равенства следует, что положение максимумов не зависит от числа щелей решетки, а зависит только от длины волны падающего света и постоянной решетки.
Если разность хода будет равна нечетному числу полуволн, то все лучи щели при сложении погасятся лучами, идущими от с о о т ве т с в е н н ы х точек соседних щелей. В направлении определяемом равенством
с Sin = (2 k + 1), или Sin=, | (8) |
мы увидим темную полоску, добавочный минимум.
Из формулы (7) следует, что лучи различной длины волны будут иметь максимум в различных направлениях. Поэтому, если на дифракционную решетку падает белый луч, то решетка разложит его, и на экране мы увидим дифракционный спектр, обращенный к центральной полосе фиолетовой линией.
Дифракционная решетка находит большое применение в спектральном анализе, обладая рядом преимуществ по сравнению с призматическим спектрографом. Разрешающая способность спектрографов с дифракционной решеткой выше чем у спектрографов призматических. Для определения длины волны достаточно знать период решетки и расстояние от решетки до экрана, предварительной градуировки спектрометра не требуется.
Дифракционной решеткой может служить прозрачная жидкость или газ, в которых распространяется ультразвуковые волны. В этом случае по дифракционной картине можно определить длину ультразвуковых волн и скорость их распространения. Дифракция рентгеновских лучей при прохождении через кристалл позволяет определить структуру кристалла.
Лабораторная установка и порядок проведения работы
Принципиальная схема установки приведена на рис. 5. Установка собрана на оптической скамье 5
Работа состоит из двух частей.
- Кафедра физики и высшей математики
- Лабораторная работа № 23
- Краткая теория.
- I. Природа света
- Основные понятия и закономерности волнового процесса.
- 3. Интерференция света.
- 4. Цвета тонких пленок
- 5. Полосы равной толщины. Кольца Ньютона.
- Рисунки к лабораторной работе №23
- 2. Принцип Гюйгенса
- Принцип Гюйгенса - Френеля
- 4. Метод зон Френеля
- 5. Дифракция от щели в параллельных лучах
- 6. Дифракционная решетка
- Часть I
- Часть II
- Контрольные вопросы:
- Лабораторная работа № 25
- Основные определения
- Поляризация при отражении и преломлении
- Поляризация при двойном лучепреломлением.
- Поляризационная призма Николя.
- Закон Малюса
- Порядок выполнения работы.
- Рисунки к лабораторной работе №25
- Контрольные вопросы.
- Описание установки и порядок выполнения работы.
- Рисунки к лабораторной работе № 25 а
- 2. Дисперсия света
- 3. Сериальные формулы
- 4. Ядерная модель строения атома по Резерфорду
- 5. Затруднения теории Резерфорда
- 6. Понятие о квантах и постоянная Планка
- Постулаты Бора
- Волны де Бройля
- 9. Линейчатые спектры по теории Бора
- Энергетические уровни в атоме
- II. Вывод расчетной формулы
- III. Описание установки и порядок выполнения работы
- Порядок выполнения работы
- Порядок выполнения работы:
- Контрольные вопросы.
- Изучение работы газового лазера Краткая теория
- Результаты вычисления длины волны
- Порядок выполнения работы
- Рисунки к работе №27
- Контрольные вопросы.
- Определение чувствительности фотоэлемента, исследование светоотдачи электролампы, определение работы выхода и красной границы фотоэффекта.
- 1. Основные понятия
- Внешний фотоэффект, законы Столетова.
- Внешний фотоэффект и волновая теория света
- 4. Уравнение Эйнштейна для внешнего фотоэффекта
- 5. Внутренний фотоэффект
- Типы фотоэлементов
- Работа состоит из 2-х частей:
- Определение чувствительности фотоэлемента.
- Определение удельной мощности электролампы.
- Дозиметрический контроль сред Краткая теория
- 1. Биологическое действие ионизирующего излучения
- 2. Единицы дозиметрии
- Описание установки и порядок выполнения работы.
- Работа выполняется в следующем порядке:
- Определения половинного слоя ослабления гамма-излучения в веществе. Краткая теория.
- 1. Радиоактивность.
- Контрольные вопросы.
- Определение температуры тел с помощью оптического пирометра Краткая теория.
- Описание установки и порядок проведения работы
- Вывод расчетной формулы
- Порядок выполнения работы.
- Обработка результатов измерений
- Расчетная таблица
- Контрольные вопросы:
- «Определение резонансного потенциала атомов гелия и ртути».
- Контрольные вопросы.