4.1.1. Точечные дефекты
Точечный дефект — это нарушение кристаллической структуры, размеры которого во всех трех измерениях сравнимы с одним или несколькими (немногими!) междуатомными расстояниями. Точечный дефект может иметь простую или сложную структуру. Простейшие точечные дефекты кристалла: вакансии (рис. 4.а)— отсутствие атома или иона в узле кристаллической решетки; междоузельные (рис.4 б) или внедренные (рис.4 в), атомы или ионы, располагающиеся на незаконном месте между узлами. Внедренными могут быть как собственные, так и примесные атомы или ионы, отличающиеся от основных атомов по размеру или валентности.
Рис.4. Точечные дефекты
Вакансия – отсутствие атомов в узлах кристаллической решетки, «дырки», которые образовались в результате различных причин. Образуется при переходе атомов с поверхности в окружающую среду или из узлов решетки на поверхность (границы зерен, пустоты, трещины и т. д. ), в результате пластической деформации, при бомбардировке тела атомами или частицами высоких энергий (облучение в циклотроне или нейтронной облучение в ядерном реакторе). Концентрация вакансий в значительной степени определяется температурой тела. Перемещаясь по кристаллу, одиночные вакансии могут встречаться и объединяться в дивакансии. Скопление многих вакансий может привести к образованию пор и пустот.
Дислоцированный атом – это атом, вышедший из узла решетки и занявший место в междоузлие. Концентрация дислоцированных атомов значительно меньше, чем вакансий, так как для их образования требуются существенные затраты энергии. При этом на месте переместившегося атома образуется вакансия.
Примесные атомы всегда присутствуют в металле, так как практически невозможно выплавить химически чистый металл. Они могут иметь размеры больше или меньше размеров основных атомов и располагаются в узлах решетки или междоузлиях.
Точечные дефекты вызывают незначительные искажения решетки, что может привести к изменению свойств тела (электропроводность, магнитные свойства), их наличие способствует процессам диффузии и протеканию фазовых превращений в твердом состоянии. При перемещении по материалу дефекты могут взаимодействовать.
Вакансии могут объединяться в дивакансии, тривакансии, вакансионные тетраэдры. Скопления многих вакансий — кластеры (cluster (англ.) — пучок, гроздь) — образуют поры, пустоты.
Вакансии и внедренные атомы существуют в кристаллах любой структуры и при любой температуре. В условиях равновесия в кристалле стехиометрического состава точечные дефекты возникают в результате теплового движения. Концентрация точечных дефектов равна нулю при температуре 0 К и быстро растет с повышением температуры.
Таким образом, даже в кристалле, находящемся в состоянии термодинамического равновесия, всегда есть некое количество точечных дефектов. В реальных условиях концентрация точечных дефектов в кристалле всегда значительно больше равновесной.
Относительные концентрации вакансий и внедренных атомов зависят не только от термодинамического равновесия, но и от условия электронейтральности кристалла. В ионных и полупроводниковых кристаллах точечные дефекты обладают электрическими зарядами: внедренный катион положителен, внедренный анион отрицателен. Вакансия аниона, т. е. отсутствие отрицательного заряда, действует как эффективный положительный за ряд, вакансия катиона — как эффективный отрицательный заряд. Каковы бы ни были соотношения концентраций и типов точечных дефектов, кристалл в целом должен быть электрически нейтральным. Условие электронейтральности обеспечивается образованием равного количества положительно и отрицательно заряженных дефектов, или образованием сложных дефектов, или же образованием свободных электронов или их вакансий («дырок»).
Точечные дефекты могут взаимодействовать друг с другом, образуя различные нейтральные сочетания. Нейтрализация дефектов решетки с помощью электронов и дырок тем более вероятна, чем больше электронов и дырок в зоне проводимости кристалла, т. е. чем уже запрещенная зона. Дефекты такого типа имеются в полупроводниках. В кристаллах с широкой запрещенной зоной, т. е. в диэлектриках, более вероятна нейтрализация точечных дефектов друг с другом путем образования парных дефектов —дефектов Френкеля (рис. 5 а) или дефектов Шоттки (рис. 5 б).
Дефекты по Я. Н. Френкелю (советский физик) Атом или ион перемещается из своего нормального равновесного положения (узла) в нестабильное, промежуточное положение (междоузлие), образуя атом или ион внедрения и вакансию, т.е. незанятый узел решетки.
Дефекты по В. Шоттки (немецкий физик) атом или ион перемещается из своих уравновешенных положений на поверхности кристалла.
Рис.5. Дефекты по Френкелю и по Шоттки.
Дефект Шоттки — пара из катионной и анионной вакансий. Этот дефект часто встречается в щелочногалоидных кристаллах. Наличие дефектов Шоттки уменьшает плотность кристалла, поскольку атом, образовавший вакансию, диффундирует на поверхность кристалла.
Дефект Френкеля — вакансия и противоположно заряженный атом в междоузлии — преобладает в кристаллах типа галоидов серебра (AgCl, AgBr). Например, в AgBr, где ионы Вr (rBr = 0,195 нм) образуют ГЦК-решетку, а ноны Ag (rAg=0,113 нм) занимают тетраэдрические пустоты, переход иона Ag+ из тетраэдрической в октаэдрическую пустоту создает дефект Френкеля. Дефекты Френкеля легко образуются также в кристаллах со структурой алмаза. Эти дефекты не влияют на плотность кристалла.
В общем случае в кристалле могут быть и дефекты Френкеля, и дефекты Шоттки, причем преобладают те, для образования которых требуется меньшая энергия.
- Лекция 6-8. Агрегатные состояния вещества
- 1. Агрегатные состояния вещества
- 1.1. Плазма
- 1.2. Газообразное состояние
- 1.3. Жидкости
- 1.3.1. Жидкие кристаллы
- 1.3.1.1. Общие сведения о жидких кристаллах.
- 1.3.1.2. Открытие жидких кристаллов
- 1.3.2. Классификация жидких кристаллов
- 1.4. Твердые вещества
- 1.4.1. Аморфные вещества
- 1.4.2. Кристаллические вещества
- 1.4.2.1. Изоморфизм и полиморфизм
- 2. Рентгеноструктурный анализ
- 3. Строение кристаллов
- 3.1. Элементы симметрии
- 3.2. Кристаллические системы (типы кристаллических решеток)
- 3.3. Основные характеристики элементарной ячейки
- 3.4. Расчёт основных размеров элементарных ячеек кубической системы
- 3.5. Классификация кристаллов по типу химических связей
- 4. Атомные нарушения структуры кристалла
- 4.1. Классификация дефектов структуры
- 4.1.1. Точечные дефекты
- 4.1.2. Образование точечных дефектов
- 4.2. Линейные деффекты (дислокации)
- 4.2.1.Краевая и винтовая дислокации
- Поверхностные дефекты
- 4.4. Плотность дислокаций
- 4.5. Широта области гомогенности
- 4.6. Индексация граней