Використання ПЕМ для дослідження структурно-фазового стану матеріалів

курсовая работа

ВСТУП

Електронна мікроскопія є сьогодні одним із потужних методів дослідження, який плідно використовується у фізиці, хімії, матеріалознавстві, біології, медицині та інших областях науки і техніки.

В електронному мікроскопі можливо спостерігати окремі великі молекули, колоїди, віруси, елементи кристалічних решіток і інших субмікроскопічних обєктів, що не піддаються дослідженню у світловому мікроскопі.

Більшість приладів використовують для дослідження деталей, розміри яких більше міжатомної відстані. А для вимірювання відстаней на рівні міжатомних використовують не прямі спостереження, а дифракційні методи.

Мікроскоп є стаціонарним лабораторним приладом багатоцільового призначення. Він призначений для проведення досліджень мікроструктури й фазового складу обєктів. За допомогою мікроскопа можливо робити візуальне спостереження й фотографування зображення обєкта в широкому діапазоні збільшень, одержувати дифракційні картини від обєктів, досліджувати обєкти при їхньому нахилі й обертанні [1].

Мета роботи полягає у вивченні характеристик і порядку роботи просвітлюючого електронного мікроскопу та дослідженні фазового складу металевих плівок в дифракційному та мікроструктурних характеристик металевих зразків у світлопольному режимах роботи мікроскопа.

Делись добром ;)