ВСТУП
Електронна мікроскопія є сьогодні одним із потужних методів дослідження, який плідно використовується у фізиці, хімії, матеріалознавстві, біології, медицині та інших областях науки і техніки.
В електронному мікроскопі можливо спостерігати окремі великі молекули, колоїди, віруси, елементи кристалічних решіток і інших субмікроскопічних обєктів, що не піддаються дослідженню у світловому мікроскопі.
Більшість приладів використовують для дослідження деталей, розміри яких більше міжатомної відстані. А для вимірювання відстаней на рівні міжатомних використовують не прямі спостереження, а дифракційні методи.
Мікроскоп є стаціонарним лабораторним приладом багатоцільового призначення. Він призначений для проведення досліджень мікроструктури й фазового складу обєктів. За допомогою мікроскопа можливо робити візуальне спостереження й фотографування зображення обєкта в широкому діапазоні збільшень, одержувати дифракційні картини від обєктів, досліджувати обєкти при їхньому нахилі й обертанні [1].
Мета роботи полягає у вивченні характеристик і порядку роботи просвітлюючого електронного мікроскопу та дослідженні фазового складу металевих плівок в дифракційному та мікроструктурних характеристик металевих зразків у світлопольному режимах роботи мікроскопа.
- ВСТУП
- 1. ПРИНЦИП ДІЇ ТА КОНСТРУКЦІЯ ПРОСВІТЛЮЮЧОГО ЕЛЕКТРОННОГО МІКРОСКОПУ
- 1.1 Принцип дії ПЕМ
- 1.2 Конструкція ПЕМ
- 2. ВИКОРИСТАННЯ РЕЖИМІВ ДИФРАКЦІЇ ТА МІКРОДИФРАКЦІЇ ДЛЯ ДОСЛІДЖЕННЯ ФАЗОВОГО СКЛАДУ ЗРАЗКІВ
- 2.1 Принцип формування дифракційного зображення
- 2.2 Результати експериментальних досліджень
- 3. ВИКОРИСТАННЯ СВІТЛОПОЛЬНОГО РЕЖИМУ У НАУКОВИХ ДОСЛІДЖЕННЯХ
- 3.1 Принцип формування світлопольного зображення
- ВИСНОВКИ